電子萬能材料試驗機

一(Yi)、電子萬(Wan)能試驗(Yan)機控(Kong)制系統

就(Jiu)是控制實驗機(Ji)運作的系統，人們經過操(Cao)作台可以(Yi)控(Kong)制實驗機的運作，經過顯示屏可以獲(Huo)知實驗機的形(Xing)狀及各項(Xiang)實驗(Yan)參數，若(Ruo)設備銜接電(Dian)腦，也可以由電腦完成各(Ge)項功(Gong)用并中(Zhong)止(Zhi)數據處置(Zhi)分析(Xi)、實驗(Yan)結(Jie)果打印(Yin)。實驗(Yan)機同電腦(Nao)之間的通訊普(Pu)通都是運用RS232串行通訊方式，它經過計算機的串口(Kou)中止通訊(Xun)，此(Ci)技術比較成熟、可(Ke)靠，運用方便。

二、電子(Zi)萬能試驗機(Ji)驅動系(Xi)統

主要是(Shi)用于實驗機的橫梁(Liang)移動，其義務(Wu)原(Yuan)理是由伺服系(Xi)統控制(Zhi)電機，電機經過減速箱(Xiang)等一系列傳動(Dong)機構(Gou)帶動絲杆(Gan)轉動，從而(Er)抵達(Da)控制橫(Heng)梁移動的目(Mu)的。經過改(Gai)動電(Dian)機的轉速(Su)，可以改動橫梁的移動速(Su)度。

三、電子萬能試驗(Yan)機測(Ce)量系統

1、橫(Heng)梁(Liang)位移測量

其(Qi)原理同變形(Xing)測(Ce)量大緻相(Xiang)反，都是經過測量光(Guang)電編(Bian)碼器的輸出脈沖數來獲(Huo)得橫梁的(De)位(Wei)移量。

2、力(Li)值的測量

經過測力(Li)傳感(Gan)器、放(Fang)大器和數(Shu)據(Ju)處置系(Xi)統來(Lai)完成測量，最常(Chang)用的測力(Li)傳感器是應變片式傳感(Gan)器。

所(Suo)謂應變片(Pian)式傳感器(Qi)，就是由應(Ying)變片、彈性(Xing)元件和某(Mou)些附件（補償元件、防(Fang)護罩、接線(Xian)插(Cha)座、加載件組(Zu)成），能将某種(Zhong)機械質變成(Cheng)電量輸出的(De)器件。

應(Ying)變片(Pian)式的拉、壓力(Li)傳(Chuan)感器國内(Nei)外品種繁多(Duo)，主(Zhu)要有筒狀力傳(Chuan)感器、輪輻式力傳感(Gan)器、S雙連孔(Kong)型傳感器、十字梁式傳感器等(Deng)類型。

從資(Zi)料力(Li)學上得知，在小變形條件(Jian)下，一(Yi)個(Ge)彈性元件某(Mou)一點的應變逵(Kui)氲?栽???艿牧(Mu)Τ燒?齲(Qu)?燦氲?緣(Yuan)謀涔鈎(Gou)燒?取(Qu)Ｒ許型傳感(Gan)器爲例，當傳感(Gan)器遭到拉力P的(De)作用時，由(You)于彈性元(Yuan)件外表粘(Zhan)貼有應變片，由(You)于彈性元件的(De)應變與外力P的大小(Xiao)成正比例，故此将應變片接入(Ru)測量電路中，即可經過測(Ce)出其輸出電(Dian)壓，從而測出(Chu)力的大小。

簡單來說，外力P惹起傳感器内應變片的(De)變形，招緻電橋(Qiao)的不均衡，從而惹起傳感(Gan)器輸出電(Dian)壓的變化(Hua)，我們經過(Guo)測量(Liang)輸出電壓的變(Bian)化就能夠曉得力的大小了。

普(Pu)通來說，傳感器的輸(Shu)出信号都(Dou)是十分微(Wei)小的(De)，通常隻要幾個mV，假如我們直接對此(Ci)信号停止測量，是十分艱(Jian)難的(De)，并且不(Bu)能(Neng)滿足高精(Jing)度測量請求。因而必需經過放大器将(Jiang)此微小信号(Hao)放大，放大(Da)後的(De)信号(Hao)電壓可達(Da)10V，此時的信(Xin)号爲模仿信号，這個(Ge)模仿信号經過多路(Lu)開關和A/D轉(Zhuan)換芯片轉變爲數字信号，然後(Hou)停止數據處置(Zhi)，至此，力的測量(Liang)告一段落。

3、變形的測量

經(Jing)過變(Bian)形測量(Liang)安(An)裝來(Lai)測量，它是用來測(Ce)量試樣(Yang)在實(Shi)驗過(Guo)程中産生的形變。

該(Gai)安裝上有兩個夾頭，經過一系列傳(Chuan)動(Dong)機構與裝在(Zai)測量安裝頂部的光電編碼器(Qi)連在一同(Tong)，當兩(Liang)夾頭(Tou)間的間隔發作變化時，帶動光(Guang)電編碼器(Qi)的軸旋轉，光電編碼(Ma)器就會有(You)脈沖(Chong)信号輸出(Chu)。再由(You)單片機對(Dui)此信号停止處置，就能夠得出(Chu)試樣的變形量。

4、橫粱(Liang)位移的測(Ce)量

其原理同變形測(Ce)量大緻相(Xiang)同，都是經過測量光電編碼器(Qi)的輸(Shu)出脈(Mo)沖數(Shu)來取(Qu)得橫梁的(De)位移量。